05月31日(Sun) 09:00〜10:40 E会場(5F北-中講義室 (593))
| 演題番号 | 2E1-2 |
|---|---|
| 題目 | 状態遷移の並列比較によるNFA照合高速化 |
| 著者 | 倉井 龍太郎(科学技術振興機構) 安田 宜仁(JST ERATO) 湊 真一(北海道大学 大学院 情報科学研究科) |
| 時間 | 05月31日(Sun) 09:20〜09:40 |
| 概要 | NFA照合において状態間を結ぶエッジのラベルは必ずしも1文字のアルファベットである必要は無い。複数文字による長いラベルによる状態遷移は状態数を減らす一方、ラベルと入力文字との比較演算コストが大きいという課題がある。並列比較とは減算時のキャリーbitの変化を利用して複数値の大小比較を並列化する手法である。本稿ではこの並列比較を用いて、次状態決定のためのラベル比較の高速化を試みる。 |
| 論文 | PDFファイル |